Оборудование для обнаружения дефектов разъемов

В оборудовании для обнаружения дефектов разъемов Fuwei, созданном ведущими экспертами Китая, используются самые современные технологии для тщательного обнаружения и выявления дефектов, гарантируя высочайший уровень качества и производительности продукции. Как производитель и поставщик, мы стремимся поставлять продукцию высочайшего качества, соответствующую строгим отраслевым стандартам. Наши конкурентоспособные цены обеспечивают доступность без ущерба для качества, что делает это оборудование бесценным активом для предприятий, стремящихся к точности и эффективности в процессах производства разъемов. Благодаря оборудованию для обнаружения дефектов разъемов Fuwei клиенты могут рассчитывать на непревзойденную надежность, точность и ценность, что дает им возможность поддерживать исключительное качество продукции при оптимизации эффективности производства.

Объекты обнаружения

Расстояние между контактами, значение GAP, точность позиционирования, воздействие НАКОНЕЧНИКА, наклон PIN-кода, сломанный PIN-код, деформация, царапины, клей, посторонние предметы, царапины, переполнение и т. д.

Сложность

На световой фотографии трудно представить дефекты, поскольку существует большое разнообразие типов дефектов, различных форм и размеров, а также различных областей возникновения, что приводит к высокой сложности.

Результат

Точное обнаружение различных дефектов разъемов с процентом промахов обнаружения менее 0,1 %.

Обнаруживаемые продукты

Оптическая визуализация

Учитывая разнообразие типов, форм и размеров дефектов разъемов, мы разработали собственную систему оптической визуализации для решения проблем визуализации различных типов разъемов.

Введение в характеристики изображений

Комбинация источников света, многопозиционная визуализация

Комбинируйте разные источники света для получения изображений при разных источниках света, объединяйте изображения с помощью алгоритмов, чтобы уменьшить слепые зоны изображения.

Одно сканирование, многосторонний вывод

Поддержка разделения времени для захвата изображений, вывод нескольких полных изображений для проверки за одно сканирование
За одно сканирование можно получить изображения, освещенные под разными углами, например, светлое поле, темное поле, контровая подсветка и т. д. Многоугольное освещение значительно повышает скорость обнаружения дефектов.